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本發(fā)明提供一種適用于多天線測試的轉接裝置，包括依次層疊的第一金屬地板、第一介質層、第二金屬地板、第二介質層和天線層，還包括金屬柱組、用于向天線層所載入的天線體饋電的第一探針和用于與接頭相接的第二探針；第一金屬地板上設置有鏤空槽，鏤空槽內設置有梯度微帶；梯度微帶的寬度存在梯度變化，其一端與第一探針相接，另一端與第二探針相接；金屬柱組中的金屬柱沿著鏤空槽的邊依次排列；金屬柱一端與第一金屬地板連接，另一端與第二金屬地板連接。該設計結構簡單、對天線性能影響小、加工工藝簡單、成本低，多個共面波導整合并共用同一第二金屬地板即能夠在小的測試面積及較低的費用前提下，實現(xiàn)測試多個天線性能，測試難度低。

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