成果介紹
本發(fā)明公開(kāi)了一種顆粒二維輪廓表面整體粗糙度計(jì)算方法,包括以下步驟:步驟S10,對(duì)顆粒的邊緣進(jìn)行區(qū)域劃分,對(duì)劃分后的每個(gè)區(qū)域均進(jìn)行掃描,獲得各分區(qū)的掃描圖片,將各分區(qū)的掃描圖片進(jìn)行拼接形成完整輪廓圖片,其中,每?jī)蓚€(gè)相鄰的分區(qū)具有相交區(qū)域,所述完整輪廓圖片顯示有顆粒的實(shí)際輪廓;步驟S20,基于所述實(shí)際輪廓構(gòu)建傅里葉函數(shù),計(jì)算出傅里葉系數(shù)和基準(zhǔn)坐標(biāo)點(diǎn),并基于基準(zhǔn)坐標(biāo)點(diǎn)構(gòu)建基準(zhǔn)輪廓;步驟S30,基于所述基準(zhǔn)輪廓和實(shí)際輪廓計(jì)算顆粒的輪廓表面粗糙度。解決了在對(duì)于不規(guī)則二維顆粒,大多數(shù)粗糙度計(jì)算方法并不適用,計(jì)算不科學(xué),精準(zhǔn)度低的技術(shù)問(wèn)題。
成果應(yīng)用案例介紹
計(jì)算控制>計(jì)算方法>顆粒二維輪廓表面粗糙度計(jì)算方法