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本發(fā)明適用于光電檢測技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種熒光壽命的測量方法及裝置，包括：首先，以預(yù)置的測量矩陣的每一行作為一個采樣模式，每一個所述采樣模式下的非零值位置作為一個時間門控延遲采樣的稀疏信號通道，在每個采樣模式下對樣品進行延遲采樣，將當(dāng)前采樣模式下的稀疏信號通道的光子數(shù)累加在一起獲得一個壓縮感知測量值，重復(fù)各采樣模式獲取系列壓縮感知測量值；然后，利用所述壓縮感知測量值并結(jié)合測量矩陣在l1范數(shù)最優(yōu)化算法下求解方程得到稀疏系數(shù)；最后，通過已知的稀疏矩陣逆變換作用于所述稀疏系數(shù)，進行信號重構(gòu)，得到熒光壽命衰減曲線，以實現(xiàn)熒光壽命的測量；本發(fā)明提供的方法提高了熒光壽命的測量速度。

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