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本發(fā)明公開(kāi)了一種基于S變換脊值的加權(quán)最小二乘相位展開(kāi)的方法，包括以下步驟：向被測(cè)物體投射正弦條紋，采集由于所述被測(cè)物體的高度而發(fā)生變形的條紋圖；通過(guò)基于濾波的S變換輪廓術(shù)得出分布在?π到+π的包裹相位圖和表示包裹相位質(zhì)量的S變換脊值；將所述S變換脊值作為加權(quán)最小二乘法相位展開(kāi)的權(quán)重值，并用預(yù)條件共軛梯度法將包裹相位展開(kāi)得出絕對(duì)相位。本發(fā)明還提供一種基于S變換脊值的加權(quán)最小二乘相位展開(kāi)的系統(tǒng)，包括：投影儀，相機(jī)和微處理器。本發(fā)明具有相位展開(kāi)速度快，抗噪性強(qiáng)，求解精度高的優(yōu)點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于條紋投影三維成像領(lǐng)域。

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